A técnica de espalhamento de raios X a baixo ângulo (SAXS) analisa a radiação espalhada por uma amostra em ângulos entre 0,1° e 5°, permitindo estudar características gerais como tamanho, distribuição e volume ocupado por nanopartículas. Amplamente utilizada na caracterização de materiais nanoestruturados, o SAXS é encontrado em grandes laboratórios síncrotron, mas também vem sendo implementado em versões de bancada, que oferecem maior praticidade e rapidez. Em relação aos equipamentos comerciais, as instrumentações desenvolvidas em laboratório destacam-se pela versatilidade e possibilidade de adaptações conforme as necessidades da pesquisa. (Texto por: Ari Júnior)

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Brucker: Diffractometer

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